薄膜熱電參數(shù)測(cè)試儀是一臺(tái)用來測(cè)薄膜材料電導(dǎo)率和塞貝克系數(shù)的一體化測(cè)試設(shè)備，設(shè)備具有測(cè)試便捷、測(cè)試范圍廣、以及智能化數(shù)據(jù)分析等特點(diǎn)，將薄膜器件的電導(dǎo)率和塞貝克系數(shù)測(cè)試流程簡(jiǎn)化到極致，可在高真空環(huán)境下實(shí)現(xiàn)100K-400K溫度區(qū)間的塞貝克系數(shù)和電導(dǎo)率測(cè)量。測(cè)試系統(tǒng)如下圖所示：

? 電導(dǎo)率測(cè)試

電導(dǎo)率測(cè)試采用四線法測(cè)量器件的電阻，電源模塊輸出一個(gè)設(shè)定電流，采用高精度電壓表測(cè)量器件兩端的電壓，根據(jù)公式  可得到電導(dǎo)率計(jì)算公式  ，其中R為器件電阻，L為長(zhǎng)度，S為橫截面積。因此需要在軟件中設(shè)置器件的長(zhǎng)度和橫截面積，軟件即可自動(dòng)得出材料電導(dǎo)率。測(cè)量電路圖如下：

圖：電導(dǎo)率測(cè)試電路圖

? 塞貝克系數(shù)測(cè)試

賽貝克測(cè)試中，測(cè)試器件跨放在熱端和冷端兩個(gè)平臺(tái)上，采用電源給熱端和冷端分別加熱，并產(chǎn)生一個(gè)溫差，采用測(cè)溫儀讀取樣品中間兩點(diǎn)的溫差，然后使用高精度電壓表來測(cè)量這兩點(diǎn)之間的電壓，根據(jù)賽貝克系數(shù)計(jì)算公式  計(jì)算得到器件的賽貝克系數(shù)，測(cè)試連接電路圖如下所示： 

? 數(shù)據(jù)分析軟件

軟件界面如下所示，軟件分為設(shè)置，圖表和數(shù)據(jù)三個(gè)界面，各界面功能介紹如下所示

3.1 設(shè)置界面：用戶在此界面設(shè)置和選擇所有需要測(cè)試的參數(shù)和功能，界面中包含器件的三維圖，用戶可根據(jù)實(shí)際器件結(jié)構(gòu)在界面中標(biāo)注器件厚度、溝道寬度和長(zhǎng)度，軟件將自動(dòng)用于電導(dǎo)率和塞貝克參數(shù)計(jì)算圖. 用戶設(shè)置界面

3.2 圖表界面如下所示，主要用于顯示所有測(cè)試曲線結(jié)果的曲線，測(cè)試結(jié)束后可一鍵保存曲線圖片

3.3 數(shù)據(jù)界面如下所示，在數(shù)據(jù)界面顯示所有測(cè)試所需查看的數(shù)據(jù)，并可一鍵生成數(shù)據(jù)報(bào)告

? TETF-LN薄膜熱電參數(shù)測(cè)試儀主要參數(shù)指標(biāo)

? TETF-LN薄膜熱電參數(shù)測(cè)試儀廣東艾維特科技有限公司售后承諾

? 設(shè)備軟件免費(fèi)升級(jí)及維護(hù)：在3年內(nèi)，賣方承擔(dān)對(duì)軟件進(jìn)行免費(fèi)升級(jí)和維護(hù)的義務(wù)。賣方對(duì)設(shè)備軟件進(jìn)行了改進(jìn)或研發(fā)了新軟件，應(yīng)立即對(duì)用戶軟件進(jìn)行免費(fèi)升級(jí)，如用戶軟件在使用過程中出現(xiàn)故障，賣方應(yīng)免費(fèi)維修。

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