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晶圓測(cè)試探針臺(tái)

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晶圓測(cè)試探針臺(tái)

晶圓測(cè)試探針臺(tái)擁有4-6個(gè)轉(zhuǎn)塔的金相顯微鏡,可安裝4個(gè)金相物鏡。其放大倍數(shù),根據(jù)所選物鏡的倍數(shù),通常由20~2000X不等。該系統(tǒng)常用于極小微尺寸的待測(cè)點(diǎn)的測(cè)試或激光應(yīng)用中。

晶圓測(cè)試探針臺(tái)配置了兼顧剛性和精度的基座,可進(jìn)行X-Y-Z三方向的精密定位。簡單直接的操作方法,可讓用戶列加專注于測(cè)試測(cè)量應(yīng)用于中去,而不是探針臺(tái)的操作。
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晶圓測(cè)試探針臺(tái)
型號(hào)LJE-4LJE-6LJE-8LJE-12
外形580mm*
620mm
*
730mm
640mm*
700mm
*
730mm
660mm*
660mm
*
700mm
1030mm
*820mm*
730mm
重量約70KG約80KG約85KG約180KG
電力需求220VC,50~60Hz
樣品臺(tái)尺寸4英寸,可360度旋轉(zhuǎn)6英寸,可360度旋轉(zhuǎn)8英寸,可360度旋轉(zhuǎn)12英寸,可360度旋轉(zhuǎn)
X-Y行程4英寸*4英寸6英寸*6英寸8英寸*8英寸12英寸*12英寸
Z軸行程6mm(快速切換)/6mm(微調(diào))
移動(dòng)精度10um/1um
樣品固定方式真空吸附
背電極測(cè)試功能有,樣品臺(tái)電學(xué)獨(dú)立懸空
針座平臺(tái)U型平臺(tái),最多可放置6個(gè)針座U型平臺(tái),最多可放置8個(gè)針座U型平臺(tái),最多可放置10個(gè)針座U型平臺(tái),最多可放置12個(gè)針座
光學(xué)特性 顯微鏡行程X-Y軸行程2英寸*2英寸,Z軸:50.8mm
顯微鏡移動(dòng)精度1um
切換鏡頭方式顯微鏡快速傾仰30   
放大倍數(shù)16~100X/20~4000X
鏡頭規(guī)格目鏡:10X;物鏡:5X,10X,20X,50X,100X(選配)
CCD像素50W(模擬)/200W(數(shù)字)/500W(數(shù)字)
點(diǎn)針規(guī)格X-Y-Z行程12mm-12mm-12mm/8mm-8mm-8mm
機(jī)械精度10微米/2微米/0.7微米/0.1微米
漏電精度10pA/100fA     (配置屏蔽箱時(shí))
接口形式香蕉頭/鱷魚夾/同軸/叁軸接口
應(yīng)用方向芯片及LD/LED/PD測(cè)試,PCB/封裝器件測(cè)試,射頻測(cè)試等。
可選附件 顯微鏡傾仰裝置(傾仰30度)高低溫樣品臺(tái)光強(qiáng)/波長測(cè)試選件
顯微鏡氣動(dòng)升降裝置屏蔽箱射頻測(cè)試附件
激光微加工轉(zhuǎn)接頭有源探頭
探針卡夾具防震臺(tái)低電流/電容測(cè)試
顯微鏡暗場/DIC/Normarski 檢測(cè)光強(qiáng)/波長測(cè)試接口部件鍍金卡盤兼容積分球測(cè)試選件
液晶漏電分析套裝同軸叁軸卡盤光纖夾具耦合測(cè)試選件
高壓/大電流測(cè)試套件樣品臺(tái)快速升降,微調(diào)升降裝置選件PCB/封裝夾具測(cè)試選件
加熱臺(tái)樣品臺(tái)旋轉(zhuǎn)微調(diào)選件特殊定制
特點(diǎn)1.顯微鏡龍門柱式設(shè)計(jì),可使顯微鏡在平面內(nèi)移動(dòng)。
2.顯微鏡可傾仰或氣動(dòng)升降,便于更換物鏡。
3.可升級(jí)做射頻,大電流方面的測(cè)試和激光修復(fù)應(yīng)用。
4.同軸驅(qū)動(dòng)卡盤,移動(dòng)精度高。

特點(diǎn)
緊湊的結(jié)構(gòu)同軸絲杠傳動(dòng)結(jié)構(gòu),線性移動(dòng)
實(shí)惠的價(jià)格無回程差設(shè)計(jì)
兼容高倍率金相顯微鏡,可微調(diào)移動(dòng)1微米以上電極/PAD測(cè)試
高等院校/研究所/公司實(shí)驗(yàn)室使用LD/LED/PD的光強(qiáng)/波長測(cè)試
最大可用于12英寸以內(nèi)樣品測(cè)試材料/器件的IV/CV特性測(cè)試


上一個(gè): 小型分析探針臺(tái)
下一個(gè): 定制化低溫真空腔體