晶圓測(cè)試探針臺(tái) | |||||
型號(hào) | LJE-4 | LJE-6 | LJE-8 | LJE-12 | |
外形 | 580mm長* 620mm寬* 730mm高 | 640mm長* 700mm寬* 730mm高 | 660mm長* 660mm寬* 700mm高 | 1030mm長 *820mm寬* 730mm高 | |
重量 | 約70KG | 約80KG | 約85KG | 約180KG | |
電力需求 | 220VC,50~60Hz | ||||
樣品臺(tái) | 尺寸 | 4英寸,可360度旋轉(zhuǎn) | 6英寸,可360度旋轉(zhuǎn) | 8英寸,可360度旋轉(zhuǎn) | 12英寸,可360度旋轉(zhuǎn) |
X-Y行程 | 4英寸*4英寸 | 6英寸*6英寸 | 8英寸*8英寸 | 12英寸*12英寸 | |
Z軸行程 | 6mm(快速切換)/6mm(微調(diào)) | ||||
移動(dòng)精度 | 10um/1um | ||||
樣品固定方式 | 真空吸附 | ||||
背電極測(cè)試功能 | 有,樣品臺(tái)電學(xué)獨(dú)立懸空 | ||||
針座平臺(tái) | U型平臺(tái),最多可放置6個(gè)針座 | U型平臺(tái),最多可放置8個(gè)針座 | U型平臺(tái),最多可放置10個(gè)針座 | U型平臺(tái),最多可放置12個(gè)針座 | |
光學(xué)特性 | 顯微鏡行程 | X-Y軸行程2英寸*2英寸,Z軸:50.8mm | |||
顯微鏡移動(dòng)精度 | 1um | ||||
切換鏡頭方式 | 顯微鏡快速傾仰30度 | ||||
放大倍數(shù) | 16~100X/20~4000X | ||||
鏡頭規(guī)格 | 目鏡:10X;物鏡:5X,10X,20X,50X,100X(選配) | ||||
CCD像素 | 50W(模擬)/200W(數(shù)字)/500W(數(shù)字) | ||||
點(diǎn)針規(guī)格 | X-Y-Z行程 | 12mm-12mm-12mm/8mm-8mm-8mm | |||
機(jī)械精度 | 10微米/2微米/0.7微米/0.1微米 | ||||
漏電精度 | 10pA/100fA (配置屏蔽箱時(shí)) | ||||
接口形式 | 香蕉頭/鱷魚夾/同軸/叁軸接口 | ||||
應(yīng)用方向 | 芯片及LD/LED/PD測(cè)試,PCB/封裝器件測(cè)試,射頻測(cè)試等。 | ||||
可選附件 | 顯微鏡傾仰裝置(傾仰30度) | 高低溫樣品臺(tái) | 光強(qiáng)/波長測(cè)試選件 | ||
顯微鏡氣動(dòng)升降裝置 | 屏蔽箱 | 射頻測(cè)試附件 | |||
激光微加工 | 轉(zhuǎn)接頭 | 有源探頭 | |||
探針卡夾具 | 防震臺(tái) | 低電流/電容測(cè)試 | |||
顯微鏡暗場/DIC/Normarski 檢測(cè)光強(qiáng)/波長測(cè)試接口部件 | 鍍金卡盤 | 兼容積分球測(cè)試選件 | |||
液晶漏電分析套裝 | 同軸叁軸卡盤 | 光纖夾具耦合測(cè)試選件 | |||
高壓/大電流測(cè)試套件 | 樣品臺(tái)快速升降,微調(diào)升降裝置選件 | PCB/封裝夾具測(cè)試選件 | |||
加熱臺(tái) | 樣品臺(tái)旋轉(zhuǎn)微調(diào)選件 | 特殊定制 | |||
特點(diǎn) | 1.顯微鏡龍門柱式設(shè)計(jì),可使顯微鏡在平面內(nèi)移動(dòng)。 | ||||
2.顯微鏡可傾仰或氣動(dòng)升降,便于更換物鏡。 | |||||
3.可升級(jí)做射頻,大電流方面的測(cè)試和激光修復(fù)應(yīng)用。 | |||||
4.同軸驅(qū)動(dòng)卡盤,移動(dòng)精度高。 | |||||
特點(diǎn) | |||||
緊湊的結(jié)構(gòu) | 同軸絲杠傳動(dòng)結(jié)構(gòu),線性移動(dòng) | ||||
實(shí)惠的價(jià)格 | 無回程差設(shè)計(jì) | ||||
兼容高倍率金相顯微鏡,可微調(diào)移動(dòng) | 1微米以上電極/PAD測(cè)試 | ||||
高等院校/研究所/公司實(shí)驗(yàn)室使用 | LD/LED/PD的光強(qiáng)/波長測(cè)試 | ||||
最大可用于12英寸以內(nèi)樣品測(cè)試 | 材料/器件的IV/CV特性測(cè)試 |