一體化 采用人工智能算法驅(qū)動,業(yè)界首個集成IV測試、CV測試、低頻噪聲(1/f noise)于單臺儀器中,無需換線和重新探針即可完成全部低頻參數(shù)化表征。 | 超快速 FS-Pro系列較傳統(tǒng)半導(dǎo)體參數(shù)測試系統(tǒng),其測試速度高達(dá)10倍,業(yè)界首創(chuàng)AI測試加速卡,體驗強大速度提升,同時保持測試精度。 | 模塊化架構(gòu) PXI模塊化架構(gòu),可輕松擴展支持生產(chǎn)測試(如 WAT)。 |
操作便捷 內(nèi)置測量控制軟件LabExpress-Adv?,擁有直觀的用戶圖形界面,僅需點擊幾下鼠標(biāo)就可以完成強大的器件特性分析功能。 | 寬量程 高達(dá)200V,3A(脈沖,標(biāo)準(zhǔn)1A),0.1fA的靈敏度。 | 建模仿真 業(yè)界唯一提供可選內(nèi)置器件建模與仿真軟件。 |