快速IVL檢測(cè)設(shè)備可用于快速檢測(cè)OLED/QLED等發(fā)光器件的電流、電壓、亮度的變化情況,其優(yōu)點(diǎn)在于:30s內(nèi)可完成單個(gè)發(fā)光器件的IVL測(cè)試;可兼容頂發(fā)射、底發(fā)射;集成于測(cè)試暗箱內(nèi),有效隔絕外界光電信號(hào)的干擾;可搭配光纖光譜儀,測(cè)試IVL過(guò)程中選擇性測(cè)試發(fā)光器件光譜;搭配快速開關(guān)切換模塊可自動(dòng)掃描多個(gè)發(fā)光點(diǎn)的快速IVL曲線等。