多功能半導體參數(shù)測試一體機FS-Pro
多功能半導體參數(shù)測試一體機FS-Pro
業(yè)界第一個基于機器學習算法驅(qū)動的半導體參數(shù)測試系統(tǒng)
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產(chǎn)品介紹
一體化 采用人工智能算法驅(qū)動，業(yè)界首個集成IV測試、CV測試、低頻噪聲(1/f noise)于單臺儀器中，無需換線和重新探針即可完成全部低頻參數(shù)化表征。 | 超快速 FS-Pro系列較傳統(tǒng)半導體參數(shù)測試系統(tǒng)，其測試速度高達10倍，業(yè)界首創(chuàng)AI測試加速卡，體驗強大速度提升，同時保持測試精度。 | 模塊化架構(gòu) PXI模塊化架構(gòu)，可輕松擴展支持生產(chǎn)測試（如 WAT）。 |
操作便捷 內(nèi)置測量控制軟件LabExpress-Adv?，擁有直觀的用戶圖形界面，僅需點擊幾下鼠標就可以完成強大的器件特性分析功能。 | 寬量程 高達200V，3A（脈沖，標準1A），0.1fA的靈敏度。 | 建模仿真 業(yè)界唯一提供可選內(nèi)置器件建模與仿真軟件。 |
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